產品詳情
簡單介紹：
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER是材料研究領域的**X射線衍射系統(tǒng)，分析樣品從粉末，多晶材料到單晶外延膜樣品。布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER可以使用戶非常方便的在材料研究領域的不同應用之間切換，包括：反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應力和織構分析。
詳情介紹：
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER簡介：
D8 DISCOVER是配備了諸多黑科技的多功能衍射儀系統(tǒng)。分析樣品從粉末，多晶材料到單晶外延膜樣品。布魯克公司全新的D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領域的**X射線衍射系統(tǒng)。X射線衍射儀D8 DISCOVER采用**性的達芬奇設計，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以非常方便的在材料研究領域的不同應用之間切換，包括：反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應力和織構分析。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER特點：
第三代G?bel 鏡可以提供高通量X射線——這對于所有的薄膜應用研究來說都是非常必要的。
整個系統(tǒng)的設計都基于簡單易行和故障保護的理念之上。像機械減震器這樣的工具允許在無用戶介入的情況下進行全自動操作。
可以根據不同樣品和具體應用的需要從大量高性能的光學配件中進行選擇，從而達到的分辨率。
X射線衍射儀D8 DISCOVER采用新型UMC載物臺和各種不同類型的尤拉環(huán)可以組合成**的樣品承載系統(tǒng)，非常適于進行殘余應力、織構和微區(qū)衍射分析。在用X射線反射法對鍍層或者半導體進行研究時甚至還可以利用專用的樣品臺進行變溫研究。
不論是利用UltraGID(*級掠射入射衍射)對納米層進行研究還是利用V?NTEC-1檢測器對倒易空間測繪進行研究都可以**在*短的時間內完成任務。
XRD Wizard和XRD
Commander可以在進行各種分析測試時向用戶提供*直觀的圖像，同時智能腳本負責常規(guī)性工作。評估計算程序LEPTOS和MULTEX
Area可以**用戶處于科技的前沿。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER主要應用：
晶格錯配
組份
應變及弛豫過程
橫向結構
鑲嵌度
薄膜厚度
組份
粗造度
密度
孔隙度
晶格錯配
組份
取向
弛豫
橫向結構
晶胞參數
晶格錯配
橫向關聯性
取向
物相組成
孔隙度
取向定量
應變
外延關聯
硬度
d值確定
擇優(yōu)取向
晶格對稱性
晶粒大小
D8 DISCOVER是配備了諸多黑科技的多功能衍射儀系統(tǒng)。分析樣品從粉末，多晶材料到單晶外延膜樣品。布魯克公司全新的D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領域的**X射線衍射系統(tǒng)。X射線衍射儀D8 DISCOVER采用**性的達芬奇設計，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以非常方便的在材料研究領域的不同應用之間切換，包括：反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應力和織構分析。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER特點：
第三代G?bel 鏡可以提供高通量X射線——這對于所有的薄膜應用研究來說都是非常必要的。
整個系統(tǒng)的設計都基于簡單易行和故障保護的理念之上。像機械減震器這樣的工具允許在無用戶介入的情況下進行全自動操作。
可以根據不同樣品和具體應用的需要從大量高性能的光學配件中進行選擇，從而達到的分辨率。
X射線衍射儀D8 DISCOVER采用新型UMC載物臺和各種不同類型的尤拉環(huán)可以組合成**的樣品承載系統(tǒng)，非常適于進行殘余應力、織構和微區(qū)衍射分析。在用X射線反射法對鍍層或者半導體進行研究時甚至還可以利用專用的樣品臺進行變溫研究。
不論是利用UltraGID(*級掠射入射衍射)對納米層進行研究還是利用V?NTEC-1檢測器對倒易空間測繪進行研究都可以**在*短的時間內完成任務。
XRD Wizard和XRD
Commander可以在進行各種分析測試時向用戶提供*直觀的圖像，同時智能腳本負責常規(guī)性工作。評估計算程序LEPTOS和MULTEX
Area可以**用戶處于科技的前沿。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER主要應用：
- 高分辨XRD(HRXRD)
外延多層膜厚度
晶胞參數晶格錯配
組份
應變及弛豫過程
橫向結構
鑲嵌度
- X射線反射率(XRR)
組份
粗造度
密度
孔隙度
- 倒易空間圖譜(RSM)
晶格錯配
組份
取向
弛豫
橫向結構
- 面內掠入射衍射 (in-plane GID)
晶胞參數
晶格錯配
橫向關聯性
取向
物相組成
孔隙度
- 應力和織構分析
取向定量
應變
外延關聯
硬度
- 物相鑒定(Phase ID)
d值確定
擇優(yōu)取向
晶格對稱性
晶粒大小
